Metrohm a le plaisir de présenter une vue d'ensemble des méthodes analytiques utilisées pour surveiller les paramètres de contrôle qualité critiques dans la production de semi-conducteurs.

Les méthodes présentées dans cet aperçu sont utilisées pour contrôler la pureté de l'eau, les acides dans les bains de gravure, la concentration des sels métalliques dans les bains de placage et les impuretés ioniques. Des liens hypertextes vers de nombreuses notes d'application et plusieurs livres blancs sont intégrés dans ce document, ce qui permet d'obtenir des informations détaillées sur la plupart de ces applications d'un simple clic de souris.

Pour faciliter l'accès, les méthodes sont structurées en fonction des différentes étapes du processus de fabrication, du contrôle de la pureté des matières premières à la gravure, au placage, à l'emballage au niveau de la plaquette, à l'encapsulation et à la stratification des PCB, et enfin au contrôle de la récupération des produits chimiques et du traitement des eaux usées.

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