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XRF、または蛍光X線分析は、さまざまな産業で元素分析に利用される最先端技術です。X線をサンプルに照射することで、XRF分光法は存在する元素を識別し、定量化し、サンプルの組成に関する貴重な洞察を提供します。プロセスモニタリングでは、XRFアナライザーが元素濃度のリアルタイムデータを提供し、生産プロセスの精密な制御と最適化を可能にします。その非破壊性と迅速な結果により、XRF技術は製造業における品質管理と効率性を革新します。メトロームプロセスアナリティクスは、特にエネルギー分散型X線蛍光分析（EDXRF）向けの初のXRF分光計、2060 XRFプロセスアナライザーを紹介します – 液体プロセス制御のための信頼性の高いオンラインX線蛍光分析。
再試薬不使用で非破壊分析
2060 XRFプロセスアナライザーは、メトロームプロセスアナリティクスからの最新のプロセスアナライザーで、液体サンプル（z=12から92までのマグネシウムからウランまでの幅広い元素を分析できるように設計されています）。非接触技術であるため、サンプル汚染のリスクを最小限に抑えるだけでなく、XRF分析に再試薬を使用しないことで廃棄物を効果的に削減します。
内部の強力さ
XRF分析を最適化するには、プロセス解析技術（PAT）向けに設計された高度なソフトウェアソリューションを搭載した2060 XRFプロセスアナライザーを使用してください。このアナライザーには、IMPACTとVantaTMという2つの主要なソフトウェア製品があります。IMPACTはユーザーインターフェースとして機能し、スマートなプログラミング、結果表示、およびプラント制御室との通信を可能にします。一方、VantaTMはすべてのデータ解析を管理します。これらのソフトウェアコンポーネントが組み合わさることで、2060 XRFプロセスアナライザーはプロセスモニタリングのサポートに最適なツールとなり、分析プロセスに最大の利益を提供します。
１台で並行分析
2060 XRFプロセスアナライザーは、連続的なデータ収集を保証し、24時間365日の無停止運転を実現します。その高度なプログラミング機能により、プラントの安全性が向上し、独自の機能が導入されます。インテリジェントな条件付きアクションを介して、アナライザーは重要なパラメーターを積極的に監視し、ユーザーがリアルタイムで情報を得ることを可能にします。サンプルが設定された限界値から逸脱した場合、アナライザーは分析頻度を調整したり、滴定、光度計、または標準添加などの追加テストをトリガーして徹底的な分析を行います。