电子产品制造过程中不可忽视清洁。尤其是离子性污染会导致电路板质量急剧恶化。本 Application Note 将介绍电路板表面阴离子的测定。为此所使用的方法-智能 Partial Loop(局部循环)进样工艺(MiPT)-可在同一样品中测定阳离子和阴离子。阳离子的测定在 AN-S-317 中进行了描述。
电子产品制造过程中不可忽视清洁。尤其是离子性污染会导致电路板质量急剧恶化。本 Application Note 将介绍电路板表面阴离子的测定。为此所使用的方法-智能 Partial Loop(局部循环)进样工艺(MiPT)-可在同一样品中测定阳离子和阴离子。阳离子的测定在 AN-S-317 中进行了描述。